Convocatoria · Universidad de Cádiz: Titulado de Grado Medio de apoyo a la Docencia en Universidad de Cádiz 2025: 3 plazas, plazo cerrado.

Bloque general. Promoción interna

1. Tema 1
   Los Estatutos de la Universidad de CádizNaturaleza, funciones, principios y fines; estructura; órganos de gobierno, participación social y representación; el personal de administración y servicios

   Los Estatutos de la Universidad de Cádiz: naturaleza, funciones, principios y fines; estructura; órganos de gobierno, participación social y representación; el personal de administración y servicios. Ver resumen

2. Tema 2Administración para la calidad. Modelos de gestión: el modelo EFQM. Los sistemas de certificación y acreditación.
3. Tema 3
   El factor humano en la organizaciónEl grupo en la organización · El trabajo en equipo · +2 apartados

   El factor humano en la organización. El grupo en la organización. El trabajo en equipo. La comunicación interna en las organizaciones. Resolución de problemas. Ver resumen

4. Tema 4
   Acceso a la información pública y transparencia: el Reglamento de Transparencia de la Universidad de CádizReclamaciones, quejas y peticiones

   Acceso a la información pública y transparencia: el Reglamento de Transparencia de la Universidad de Cádiz. Reclamaciones, quejas y peticiones. Ver resumen

5. Tema 5Tercer Plan Estratégico de la Universidad de Cádiz: misión, visión y valores; diagnóstico; dimensiones y objetivos.
6. Tema 6Código Ético de la Universidad de Cádiz (Código Peñalver).
7. Tema 7Normativa de ejecución presupuestaria de la Universidad de Cádiz.

Bloque general. Turno libre

1. Tema 1
   La Ley Orgánica del Sistema UniversitarioFunciones del sistema universitario y autonomía de las universidades; creación y reconocimiento de las universidades y…

   La Ley Orgánica del Sistema Universitario: funciones del sistema universitario y autonomía de las universidades; creación y reconocimiento de las universidades y calidad del sistema universitario; régimen jurídico y estructura de las universidades públicas; gobernanza de las universidades públicas. Ver resumen

2. Tema 2
   La Ley Orgánica del Sistema UniversitarioOrganización de enseñanzas; Investigación y transferencia e intercambio del conocimiento e innovación

   La Ley Orgánica del Sistema Universitario: Organización de enseñanzas; Investigación y transferencia e intercambio del conocimiento e innovación. Ver resumen

3. Tema 3
   Los Estatutos de la Universidad de CádizNaturaleza, funciones, principios y fines; estructura; órganos de gobierno, participación social y representación; el personal de administración y servicios

   Los Estatutos de la Universidad de Cádiz: naturaleza, funciones, principios y fines; estructura; órganos de gobierno, participación social y representación; el personal de administración y servicios. Ver resumen

4. Tema 4El Estatuto Básico del Empleado Público: deberes de los empleados públicos; código de conducta.
5. Tema 5
   El cuarto convenio colectivo del personal laboral de las universidades públicas de AndalucíaNormas de organización del trabajo: principios generales y clasificación profesional; la regulación en el convenio de la prevención de riesgos laborales

   El cuarto convenio colectivo del personal laboral de las universidades públicas de Andalucía: normas de organización del trabajo: principios generales y clasificación profesional; la regulación en el convenio de la prevención de riesgos laborales. Ver resumen

6. Tema 6Administración para la calidad. Modelos de gestión: el modelo EFQM. Los sistemas de certificación y acreditación.
7. Tema 7
   El factor humano en la organizaciónEl grupo en la organización · El trabajo en equipo · +2 apartados

   El factor humano en la organización. El grupo en la organización. El trabajo en equipo. La comunicación interna en las organizaciones. Resolución de problemas. Ver resumen

8. Tema 8
   Acceso a la información pública y transparencia: el Reglamento de Transparencia de la Universidad de CádizReclamaciones, quejas y peticiones

   Acceso a la información pública y transparencia: el Reglamento de Transparencia de la Universidad de Cádiz. Reclamaciones, quejas y peticiones. Ver resumen

9. Tema 9Tercer Plan Estratégico de la Universidad de Cádiz: misión, visión y valores; diagnóstico; dimensiones y objetivos.
10. Tema 10Normativa de ejecución presupuestaria de la Universidad de Cádiz.
11. Tema 11
    Ley Orgánica 3/2007, de 22 de marzo, para la igualdad efectiva de mujeres y hombres: Objeto y ámbito de la LeyEl principio de igualdad y la tutela contra la discriminación · +1 apartado

    Ley Orgánica 3/2007, de 22 de marzo, para la igualdad efectiva de mujeres y hombres: Objeto y ámbito de la Ley. El principio de igualdad y la tutela contra la discriminación. El principio de igualdad en el empleo público: Criterios de actuación de las Administraciones Públicas. Ver resumen

12. Tema 12
    Ley Orgánica 3/2018, de 5 de diciembre, de Protección de Datos Personales y garantía de los derechos digitalesDisposiciones generales · Principios de protección de los datos · +1 apartado

    Ley Orgánica 3/2018, de 5 de diciembre, de Protección de Datos Personales y garantía de los derechos digitales: Disposiciones generales. Principios de protección de los datos. Derecho de las personas. Ver resumen

13. Tema 13Código Ético de la Universidad de Cádiz (Código Peñalver).

Bloque específico. Promoción interna y turno libre — Bloque 1: Instrumental y mantenimiento básico

1. Tema 1
   Microscopía electrónicaMicroscopía Electrónica de Barrido (SEM) · Fundamentos y características generales · +3 apartados

   Microscopía electrónica. Microscopía Electrónica de Barrido (SEM). Fundamentos y características generales. Microscopio electrónico de barrido: Esquema general, componentes y función de los componentes. El microscopio electrónico de Barrido Nova NanoSEM 450. Esquema y características generales. Ver resumen

2. Tema 2
   Microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB)Esquema general, componentes y función de los componentes · El microscopio electrónico de barrido de doble haz Scios2 · +1 apartado

   Microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Esquema general, componentes y función de los componentes. El microscopio electrónico de barrido de doble haz Scios2. Esquema y características generales. Ver resumen

3. Tema 3
   Sistemas de alta tensión y sistemas de refrigeraciónEquipos de alta tensión y de refrigeración en los microscopios electrónicos de barrido: Nova Nanosem 450 y de doble haz Scios2 · +3 apartados

   Sistemas de alta tensión y sistemas de refrigeración. Equipos de alta tensión y de refrigeración en los microscopios electrónicos de barrido: Nova Nanosem 450 y de doble haz Scios2. Características, chequeo y mantenimiento básico. Sistemas de alimentación ininterrumpida (SAIs). Control y mantenimiento básico. Ver resumen

4. Tema 4
   Formación del haz de electronesCaracterísticas generales del haz de electrones · +3 apartados

   Formación del haz de electrones. Características generales del haz de electrones. Fuentes de electrones: Emisión termoiónica y emisión de campo: Fundamentos, tipos, características y propiedades fundamentales de cada tipo de emisión. Comparativa entre las diferentes fuentes de emisión en un microscopio electrónico de barrido. Puesta en funcionamiento de la emisión de electrones y operaciones básicas de control y mantenimiento del cañón de electrones. Ver resumen

5. Tema 5
   Lentes electromagnéticas en el Microscopio electrónico de barridoFundamento y configuración de las lentes · Piezas polares: Tipos, esquema y funciones · +5 apartados

   Lentes electromagnéticas en el Microscopio electrónico de barrido. Fundamento y configuración de las lentes. Piezas polares: Tipos, esquema y funciones. Aperturas de electrones. Tipos de lentes y aperturas en los microscopios electrónicos de barrido: Nova NanoSEM 450 y de doble haz Sciso2. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento. Aberraciones en las lentes electromagnéticas: Naturaleza, tipos. Corrección de aberraciones en el microscopio electrónico de barrido. Ver resumen

6. Tema 6
   Sistema de vacíoTipos de bombas de vacío, características y operaciones básicas de mantenimiento · Esquema general del sistema de vacío de un microscopio de barrido · +2 apartados

   Sistema de vacío. Tipos de bombas de vacío, características y operaciones básicas de mantenimiento. Esquema general del sistema de vacío de un microscopio de barrido. Aspectos particulares del sistema de vacío en los microscopios electrónicos de barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2. Esquema específico de vacío del sistema Dual Beam del microscopio Scios2. Ver resumen

7. Tema 7
   Interacción electrón-materiaSeñales generadas en el proceso de interacción: Electrones secundarios y electrones retrodispersos: Origen y propiedades fundamentales de cada señal · +3 apartados

   Interacción electrón-materia. Señales generadas en el proceso de interacción: Electrones secundarios y electrones retrodispersos: Origen y propiedades fundamentales de cada señal. Detectores de electrones en un microscopio electrónico de barrido asociados a cada tipo de señal: Principio de funcionamiento y características. Detectores de electrones instalados en los microscopios electrónicos de barrido: Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2: Características técnicas y funciones. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento de los detectores de electrones. Ver resumen

8. Tema 8
   Formación de imagen e interpretación de imágenes en un microscopio electrónico de barrido (SEM)Modos de imagen en SEM · Origen de los contrastes en imágenes obtenidas en SEM: Contraste topográfico y contraste composicional · +1 apartado

   Formación de imagen e interpretación de imágenes en un microscopio electrónico de barrido (SEM). Modos de imagen en SEM. Origen de los contrastes en imágenes obtenidas en SEM: Contraste topográfico y contraste composicional. Contraste Cristalográfico (ECCI). Ver resumen

9. Tema 9
   Difracción de electrones retrodispersados en microscopia electrónica de barrido (EBSD)Mapas de kikuchi: Origen y características · Mapas de fases y mapas de orientaciones · +3 apartados

   Difracción de electrones retrodispersados en microscopia electrónica de barrido (EBSD). Mapas de kikuchi: Origen y características. Mapas de fases y mapas de orientaciones. Fenómeno de difracción de electrones trasmitidos (Transmission Kikuchi Difraction TKD) en un microscopio electrónico de barrido. Características del detector de electrones retrodispersados del microscopio Scios2. Operaciones de chequeo y mantenimiento. Ver resumen

10. Tema 10
    Generación de Rayos X en microscopia electrónica de barrido (SEM)Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (X-EDS): Principio de funcionamiento y componentes · Análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X en SEM · +1 apartado

    Generación de Rayos X en microscopia electrónica de barrido (SEM). Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (X-EDS): Principio de funcionamiento y componentes. Análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X en SEM. Detectores de rayos X en los microscopios de barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2: Características técnicas y operaciones básicas de chequeo y mantenimiento. Ver resumen

11. Tema 11
    Formación del haz de ionesCaracterísticas generales del haz de iones en los sistemas Dual Beam · Fuentes de emisión de iones: Fundamento, especies usadas y propiedades fundamentales · +4 apartados

    Formación del haz de iones. Características generales del haz de iones en los sistemas Dual Beam. Fuentes de emisión de iones: Fundamento, especies usadas y propiedades fundamentales. Fuente de iones Galio y apertura de iones en el microscopio Scios2. Puesta en funcionamiento de la emisión de iones y operaciones básicas de control y mantenimiento del cañón de iones. Columna de iones y sistema de lentes en una columna de haces de iones focalizados. Operaciones de chequeo y mantenimiento. Ver resumen

12. Tema 12
    Interacción entre los iones y la materiaFundamento, mecanismos y modelos de interacción · Daños causados en un material por la interacción con iones · +4 apartados

    Interacción entre los iones y la materia. Fundamento, mecanismos y modelos de interacción. Daños causados en un material por la interacción con iones. Señales generadas tras la interacción iones-materia: Origen de las señales y fundamento. Detector de electrones en un sistema de haz de iones focalizados. Formación de imagen en un sistema de haz de iones focalizados. Características e interpretación. Ver resumen

13. Tema 13
    Sistemas de Inyección de gases (GIS)Fundamento · Modificación química de las superficies en un sistema de haces focalizados: Fenómeno de deposición y etching · +6 apartados

    Sistemas de Inyección de gases (GIS). Fundamento. Modificación química de las superficies en un sistema de haces focalizados: Fenómeno de deposición y etching. Sistema de gases en el microscopio de barrido de doble haz Scios 2. Características técnicas, tipos y aplicaciones. Operaciones de chequeo y mantenimiento de los sistemas GIS. Módulo micromanipulador. Especificaciones técnicas del micromanipulador Easylift del microscopio Scios2. Operaciones básicas de control, puesta a punto, recambio y calibración del micromanipulador. Ver resumen

14. Tema 14
    Equipamiento específico módulo Cryomat para el estudio de materiales a temperatura criogénicaCaracterísticas técnicas y componentes · Configuración y montaje del sistema de refrigeración · +1 apartado

    Equipamiento específico módulo Cryomat para el estudio de materiales a temperatura criogénica. Características técnicas y componentes. Configuración y montaje del sistema de refrigeración. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento. Ver resumen

Bloque específico. Promoción interna y turno libre — Bloque 2: Operación y Análisis de la información

1. Tema 15
   Aspectos experimentales de la Microscopía electrónica de barridoOperaciones básicas de alineamiento de un microscopio electrónico de barrido en modos de trabajo de bajo vacío y alto vacío · +3 apartados

   Aspectos experimentales de la Microscopía electrónica de barrido. Operaciones básicas de alineamiento de un microscopio electrónico de barrido en modos de trabajo de bajo vacío y alto vacío. Procedimiento para el análisis estructural y morfológico mediante el registro de imágenes de electrones secundarios. Análisis composicional mediante el registro de imágenes de electrones retrodispersos. Registro de imágenes a partir de señales generadas durante la interacción de la muestra con el haz de iones. Ver resumen

2. Tema 16
   Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de operación de la columna de electrones · +1 apartado

   Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 (Sistema STEM II). Ver resumen

3. Tema 17
   Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio Scios2Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos de operación de la columna de electrones · +3 apartados

   Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio Scios2. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio Scios 2 (Sistema STEM 3+). Aspectos prácticos para el registro de imágenes de electron channeling contrast (ECCI). Aspectos prácticos del análisis de estrés residual de materiales en sistemas de haces de iones focalizados mediante la técnica de correlación de imagen digital (TIC). Ver resumen

4. Tema 18
   Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEMRegistro de espectros: Puntuales y de línea · Mapas de distribución elemental · +3 apartados

   Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEM. Registro de espectros: Puntuales y de línea. Mapas de distribución elemental. Aspectos prácticos específicos para el análisis cualitativo con el software Aztec EDS: Registro y análisis de la información. Aspectos específicos del programa EDAX para microanálisis. Cuantificación mediante el método ZAF. Ver resumen

5. Tema 19
   Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversalesAspectos prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones transversales · +1 apartado

   Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversales. Aspectos prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones transversales. Aspectos prácticos para el análisis composicional mediante X-EDS de una sección transversal. Ver resumen

6. Tema 20
   Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e in-situFabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal · Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores · +3 apartados

   Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e in-situ: Fabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal. Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores. Método avanzado automatizado de fabricación de muestras para TEM mediante el software AutoTEM 4: Descripción, configuración y parámetros. Métodos específicos no convencionales de preparación de muestras para TEM: Planar view, back side y fabricación de nanopilares. Aspectos prácticos. Ver resumen

7. Tema 21
   Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de barridoAspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de orientaciones mediante la técnica EBSD en el… · +2 apartados

   Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de barrido. Aspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de orientaciones mediante la técnica EBSD en el microscopio Scios2: Adquisición y análisis de datos mediante el Software Aztec EBSD y Aztec Crystal. Registro de patrones de electrones transmitidos en un microscopio de barrido. Detalles específicos del software Aztec EBSD para el registro de experimentos de difracción de electrones transmitidos (TKD). Ver resumen

8. Tema 22
   Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB)Aspectos prácticos de la preparación de la muestra de manera manual · +3 apartados

   Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Aspectos prácticos de la preparación de la muestra de manera manual. Aspectos específicos del Software automatizado AutoSlice and view 4: Descripción, configuración y parámetros. Realización de experimentos de reconstrucción 3D en sistemas Dual Beam SEM-FIB con análisis composicional y/o EBSD: Métodos para el análisis 3D composicional y cristalográfico: Método In situ y Ex situ: Aspectos prácticos y configuración. Reconstrucción 3D de imágenes con el programa Avizo: Aspectos fundamentales básicos para el alineamiento, reconstrucción y segmentación de volúmenes. Ver resumen

9. Tema 23
   Estudio de materiales en un microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB) a temperatura criogénicaAspectos experimentales para el análisis morfológico y composicional de muestras sensibles en el microscopio de doble haz Scios2 · +1 apartado

   Estudio de materiales en un microscopio electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB) a temperatura criogénica. Aspectos experimentales para el análisis morfológico y composicional de muestras sensibles en el microscopio de doble haz Scios2. Procedimiento experimental con el equipamiento Cryomat: Operaciones de montaje del sistema y aspectos técnicos importantes. Ver resumen